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Apresentamos um espectrômetro de 5m de comprimento para raios X suaves a ser utilizado em uma linha de feixe de radiação de sincrotron para espectroscopia de emissão ressonante de raios X e espalhamento inelástico ressonante na faixa de energia de 400–1600eV. Ele é baseado em uma rede esférica de espaçamento variável (densidade média de sulcos de 3200mm−1, R=58,55m) e um detector bidimensional acoplado por carga. Com um ponto de raios X sobre a amostra de 10μm, o poder de resolução alvo é superior a 10 000 em todas as energias abaixo de 1100eV e melhor que 7000 a 1500eV. Os testes off-line realizados com emissões de fluorescência de Al e MgKα1,2 indicam que o espectrômetro pode realmente operar com um poder de resolução de 12 000 e 17 000 nas bordas L3 de Cu (930eV) e Ti (470eV), respectivamente. O SAXES (espectrômetro de emissão de raios X superavançado) está montado em uma plataforma rotativa permitindo variar o ângulo de espalhamento de 25° a 130°. O espectrômetro estará operacional na linha de feixe ADRESS (espectroscopias ressonantes avançadas) da Swiss Light Source a partir de 2007.
Ghiringhelli et al. (Quarta-feira,) estudaram essa questão.
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