Sobre el uso del azufre como trazador de abundancias en galaxias

Resumen 2+Presentamos una metodología para el uso del azufre como trazador de metalicidad global en galaxias, lo que permite realizar un análisis completo de abundancias utilizando solo la región espectral del rojo al infrarrojo cercano. La hemos aplicado a una compilación de datos de alta calidad divididos en dos muestras: regiones H ii (DHR) en galaxias espirales e irregulares, y galaxias enanas dominadas por una fuerte formación estelar (H ii Gal). Las abundancias de azufre se han derivado por métodos directos bajo la suposición de una estructura de ionización compuesta por dos zonas: una de ionización intermedia donde se origina S++, y una de baja ionización donde se forma S+. Se han calculado factores de corrección de ionización (ICF) a partir de la relación Ar/Ar3+ y se ha mostrado que se correlacionan con la dureza del campo de radiación. Solo alrededor del 10 por ciento de los objetos muestran contribuciones de S3+ a la abundancia total mayores del 30 por ciento. Existe una buena correlación entre la abundancia de azufre y la temperatura de ionización, siendo los objetos de baja metalicidad ionizados por estrellas más calientes. No se encuentra correlación entre el parámetro de ionización y la abundancia total de S/H. La mayoría de los objetos de H ii Gal muestran razones S/O por debajo del valor solar y una tendencia a aumentar las razones S/O con el aumento de las abundancias de azufre, mientras que los objetos DHR muestran razones S/O mayores que las solares y una tendencia a reducir las razones S/O para mayores metalicidades. Finalmente, presentamos una calibración de la abundancia de azufre a través del parámetro S23 que sigue siendo único hasta abundancias de azufre bien más allá del valor solar. S23 es independiente del parámetro de ionización y solo débilmente dependiente de la temperatura de ionización.