コアベースのシステムLSIに対する新しいテスト手法とテスト時間最小化問題

本論文では、コアベースのシステムLSIに対する新しいテスト手法を提案します。我々のテスト手法は、コアベースのシステムLSIに対するテスト時間を短縮することを目的としています。テスト時間短縮を考慮し、我々のテスト手法はBISTとATPGに基づいています。本論文の主な貢献は以下の通りです。(i) BISTは、外部の主入力と主出力の制限を緩和するために、外部テストと効率的に組み合わされています。(ii) 1つのコアに対する外部テストと他のコアに対するBISTが並行して実施され、総テスト時間を短縮します。(iii) コアベースのシステムLSIに対するテスト時間最小化問題は、与えられたテストベクターのセットから各コアに対する最適なテストベクターの集合を選択する組合せ最適化問題として定式化されます。