三种X射线相位对比度成像技术的理论比较：基于传播的成像、基于分析晶体的成像和光栅干涉成像

在过去的二十年中，多种X射线相位对比度成像技术得到了发展，并应用于材料科学、生物学和医学等不同领域。然而，文献中尚缺乏全面的相互比较。我们在本文中提出了一项理论研究，对三种最常用的技术进行了比较：基于传播的成像（PBI）、基于分析晶体的成像（ABI）和光栅干涉成像（GI）。这些技术在信噪比、品质因数和空间分辨率方面得到了评估。同时考虑了面信号和边缘信号。推导并讨论了对物体特性（吸收、相移）和实验采集参数（能量、系统点扩散函数等）的依赖性。从该分析中获得的结果可作为确定针对特定应用的最合适技术的参考。