Investigations of the structure of thin fluorocarbon films by x-ray diffraction and infrared spectroscopy

The X-ray diffraction method was tested for the investigation of the structure of thin fluorocarbon films grown in a glow discharge in tetrafluoroethylene. It could be shown that the computed electron densities are strongly related to the structure of the well known linear molecule of polytetrafluoroethylene. The results are supported by infrared absorption spectra. Foreign atoms and chain branching being a reason for the amorphous structure of the films were ascertained. An in einer Glimmentladung in Tetrafluoräthylen hergestellten dünnen Fluorkohlen-stoffschichten wurde die Möglichkeit der Anwendung der Röntgenbeugung zur Strukturuntersuchung erprobt und gefunden, daß die erhaltenen Elektronendichteverteilungskurven sich in enge Beziehung zur Struktur des linearen Polytetrafluoräthylen-Moleküls bringen lassen. Infrarotabsorptionsspektren stützen dieses Ergebnis. Fremdatome und Kettenverzweigungen, die eine Ursache für die Amorphität der Schichten sind, können nachgewiesen werden.