Collecte de donnees de diffraction RX a haute resolution afin d'obtenir des donnees precises et des densites de charge experimentales. Affinements conventionnel et multipolaire. Generation des cartes de densite de deformation par des syntheses de Fourier X-X et comparaison avec les distributions statiques obtenues par la methode multipolaire. Les resultats sont egalement compares avec ceux obtenus precedemment. Analyse du changement de resolution de la densite de deformation due a une precision accrue
No takes yet. Share an insight, caveat, or question.
Zöbel et al. (1992) studied this question.