A Simple Method for Measuring the Anisotropic Two-dimensional Noise Power Spectrum in Helical CT Scan

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【目的】最近，computed tomographyにおける非等方性の二次元noise power spectrum（2D-NPS）を測定する新たな方法が考案された．測定された2D-NPSはヘリカルスキャンにおけるX線管角度θに依存して変化し，これを2D-NPSθと定義した．しかし，この方法は，統計的な変動の少ない2D-NPSθを測定するために多数のスキャンが必要となり，労力を要する．本研究では，2D-NPSθは一つの非等方性2D-NPSがX線管の回転に連動し，空間周波数領域の原点を中心に回転したものであると仮定した．その一つの非等方性2D-NPSを2D-NPSrotと定義し，少ないスキャン回数で2D-NPSrotを測定する方法を提案する．【方法】水ファントムを100回スキャンし得られたノイズ画像から2D-NPSθ（θは0°から180°まで30°刻み）を算出した．提案法では，2回スキャンにより得られた各ノイズ画像から2D-NPSθを算出し，それぞれθだけ逆回転させることで同一形状の2D-NPSを求めた．それらを加算平均し，一つの2D-NPSrotを得た．【結果】2D-NPSrotをθだけ回転させたものは対応する2D-NPSθと類似した．各θにおける誤差率の平均の絶対値は0.7%以下，標準偏差は6.12%以下であった．【結語】非等方性2D-NPSの簡便な測定法を提案し，その妥当性が示唆された．