Croissance de Mo 3 Si par la methode TSZM et de Mo 5 Si 3 par la methode Czochralski. Caracterisation par diffraction de neutrons sur monocristal et sur poudre respectivement. Mo 3 Si cristallise dans Pm3n avec a=4,897 A, distance Mo−Mo la plus courte de 2,449 A. Mo 5 Si 3 cristallise dans In/mcm avec a=9,650 et c=4,911 A, distance Mo−Mo la plus courte de 2,456 A
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Christensen et al. (1983) studied this question.