Motivation: Die Untersuchung von Patienten mit Neurostimulatoren stellt ein ernsthaftes Sicherheitsproblem dar. Ziel(e): Entwicklung von personenbezogenen und situationsspezifischen Risikobewertungen für Träger von Implantaten, indem gezeigt wird, dass entscheidende Sicherheitsinformationen direkt aus einem kommerziellen tiefen Hirnstimulationsgerät (DBS) abgelesen werden können. Ansatz: Kalibrierungs-, Phantom- und MRT-Experimente basierend auf Impedanzmessungen von kommerziellen 8-Elektroden-DBS-Leitungen werden durchgeführt. Ergebnisse: RF-induzierte Erwärmung ändert die elektrische Leitfähigkeit des Gewebes (~2%/℃) um DBS-Elektroden, was als Änderung der Impedanz oder des reziproken Admittanz gemessen werden kann. Die kausale Beziehung wird sowohl bei 3T als auch bei 7T nachgewiesen. RF-induzierte Erwärmung wird im MRT durch den implantatfreundlichen Modus allein basierend auf Impedanzmessungen unterdrückt. Einfluss: Diese Arbeit öffnet die Tür zu direkten Temperaturmessungen in der Nähe der Spitze aktiver medizinischer Implantate, wobei das Implantat selbst als Temperatursensor dient. Dies könnte eine disruptive Änderung im Management der Implantatsicherheit im MRT mit sich bringen.
Silemek et al. (Tue,) haben diese Frage untersucht.