A origem do tempo de retenção variável em DRAM

Para investigar a origem do tempo de retenção variável (VRT) em DRAM, utilizamos estruturas de teste e medimos cuidadosamente a dependência temporal da corrente de fuga em DRAM. Consequentemente, descobrimos pela primeira vez que a corrente de fuga da junção flutua exatamente como um sinal de telégrafo aleatório (random telegraph signal). Analisamos a flutuação da corrente de fuga em detalhes e descobrimos que ela é a origem do VRT