摘要:X射线光电子能谱(XPS)在表面分析中的化学特异性是众所周知的。然而,重叠的峰和复杂的峰形可能会妨碍光谱的常规分析。对样品进行控制变化以系统性地改变光电子光谱的研究可以揭示关于峰形和隐藏光谱特征的宝贵信息。本洞察笔记旨在教育用户接受和利用光谱中的变化,以促进光谱分析。
Morgan等(星期四)研究了这个问题。