キラル誘導・増幅・転写において魅力的で有用な反応場である超分子集合体，フィルム，ゲル，液晶，膜，ポリマー，単結晶などの凝縮系や固体におけるキラル光学物性を詳細に知ることは近年のキラル実材料分野において重要度が高まっている．しかし，キラル光学物性の代表的な円二色性（cd）や円偏光発光（cpl）は，偏光変調分光法に基づくキラル分光光度計で計測されるため，これら光学異方性試料のcdやcpl分光測定から得られたシグナルを正しいキラリティシグナルと判断するのは注意が必要である．光学異方性試料の持つ光学異方性，すなわち直線偏光が関与する非キラル信号と分光計の光学素子の残留複屈折や偏光特性とのカップリング効果が偽シグナルとして測定されたシグナルに混在しているからである．これらの偽シグナルは，しばしばキラルシグナルよりもはるかに大きいため厄介である．本稿では，偏光変調分光計の原理に立ち戻り，光学異方性試料の正しいキラルシグナルを得るための方法論とストークス─ミューラー行列偏光分光法における信号解釈について系統的にまとめたので紹介する．
Takunori Harada (Mon,) studied this question.