基于学习的故障相关测试模式识别以实现成本效益的 VLSI 测试

Key Points

• 识别故障相关测试模式提升了 VLSI 测试的成本效益，简化了测试过程。
• 机器学习算法有助于确定 VLSI 测试过程中故障检测的最有效测试指标。
• 该分析采用创新方法，通过将数据驱动的见解整合到测试框架中来增强 VLSI 测试。
• 强调故障相关模式的好处表明在测试效率和准确性方面的潜在改进。