FAPbI3单晶中的异常载流子寿命延长揭示了表面陷阱饱和动力学

本研究报告了高质量FAPbI3单晶中的动态自钝化机制，该机制源于高激发通量下的陷阱状态饱和，并通过近表面敏感瞬态反射光谱（TR）进行研究。应用逆希尔伯特变换（iHT）于TR信号使得在近表面区域对载流子动力学的高灵敏度探测成为可能，有效抑制了来自体相的贡献。实验结果表明，带隙的初始蓝移主要归因于高密度光生载流子的能带填充效应。随着泵浦通量的增加，Auger（τ2）和缺陷介导（τ3）复合的寿命先缩短然后显示出明显的异常延长。这一转变表明高浓度光生载流子可以瞬时占据表面深能级陷阱状态，从而有效抑制非辐射复合通道。这个动态陷阱状态自钝化机制阐明了FAPbI3在强光照下增强的载流子持久性，提供了对其内在界面行为的见解，并为优化相关光电器件的性能提供了基础.