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分析了不同化学成分的石墨烯氧化物(GOs)的拉曼光谱,这些石墨烯氧化物是通过氧化不同起始材料合成的,以将光谱特征与结构特性相关联。不同石墨烯氧化物的化学成分通过X射线光电子能谱(XPS)确定,纳米片的特性通过ζ电位和动态光散射(DLS)测量进行表征。结果表明,纳米片的化学成分、大小和表面电荷依赖于起始材料。我们在一阶拉曼光谱中发现了五个已有的频带(D、D′、G、D″和D*),在二阶拉曼光谱中发现了三个频带(2D、D + D′和2D′),成功解释了1000到3500 cm–1之间的拉曼光谱。频带分析表明,2D和D + D′频带的最大位置之间以及D和G频带的相对强度(ID/IG)与Csp2百分比之间存在线性相关性。此外,我们的结果证明D′和D频带的相对强度与理论相关性极为吻合,并能够将氧化过程中产生的缺陷类型,即空位或sp3杂化,与石墨烯氧化物片的大小联系起来。
López‐Díaz等人(周五)研究了这个问题。