应用电子背散射衍射于广义离子束铣削制备的锂薄片

由于其极低的硬度和原子序数，纯锂无法通过常规方法制备，以便进行扫描电子显微镜分析。在这里，我们报告了使用电子背散射衍射（EBSD）和基于能量色散光谱（EDS）的X射线微分析对用广氩离子铣削（IM）抛光的锂金属薄片作为锂离子电池技术的基电极的表征。无需研磨和抛光，即可实现表面分析所需的足够无损。基于EDS结果，能够表征杂质，EBSD则准确显示了该材料的微观结构和微观纹理。由于IM的强烈使用和样品转移到显微镜腔体所导致的束损伤和氧化/水合估计低于50纳米。尽管IM过程会在标本表面产生温度升高，但假设铣削参数足以将对表面温度的加热效应降到最低。然而，如果在铣削过程中有可用的冷冻台，应使用以确保铣削后表面无加热伪影。