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交流(AC)磁测量用于测量磁弛豫时间,是表征单分子磁体(SMMs)的最基本测量之一。这些测量作为频率、温度和磁场的函数进行,为材料中发生的基本磁弛豫过程提供了重要信息。磁弛豫时间通常拟合到源自自旋-声子耦合理论的模型函数,这允许表征磁弛豫的机制。这些弛豫模型的参数通常在不同分子之间进行比较,以寻找与分子结构相关的趋势,从而可能指导该领域迎来下一个突破。然而,除非能够量化模型参数的不确定性,否则这种模型参数的元分析注定会被过度解读。在这里,我们确定了一种从交流实验中获得磁弛豫时间不确定性估计的方法,并提供了一个名为CC-FIT2的程序,用于拟合实验AC数据以及由此产生的弛豫时间,以获得具有准确不确定性的弛豫参数。将我们的方法应用于三种典型的高性能镝(III)SMM家族表明,考虑不确定性对弛豫参数的不确定性有显著影响,并且较大的不确定性似乎与所研究化合物的晶体缺陷相关。我们建议这种类型的分析应在学术界成为常规。
Reta等(周二)研究了这个问题。
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