两个千年模拟中暗物质晕的合并率和质量组装历史

我们构建了暗物质晕的合并树，并使用千年与千年-II模拟的联合数据集量化它们的合并率和质量增长率。千年-II模拟的更高分辨率使我们能够将早期对晕合并统计的分析扩展到前所未有的后代晕质量范围（10¹⁰M₀ - 10¹⁵M），前体质量比（10⁻⁵ξ ≤ 1）和红移（0 ≤ z ≤ 15）。我们更新了先前关于每个晕平均合并率的拟合形式，作为M₀、ξ和z的函数。该量的整体行为保持不变：单位红移的合并率几乎与z无关，直至z∼ 15；与晕质量的依赖关系微弱（∝M⁰.¹³⁰）；并且在前体质量比中几乎呈幂律分布（∝ξ⁻²）。我们还提出了一个简单而准确的拟合公式，表示晕的平均质量增长率，作为质量和红移的函数。这个平均率在z=0时对101²M的晕为46 M/yr，它随着质量的增加而增加，∝M¹.¹，随着红移增加，∝(1 + z)².⁵（对于z ≥ 1）。当对平均质量增长率的拟合在晕的历史上进行积分时，我们发现与模拟晕的平均质量组装历史极为吻合。通过结合合并率和质量组装历史，我们呈现了晕历史中合并数量的结果和最后一次重大合并的红移统计数据。