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我们展示了使用自适应光学(AO)补偿望远镜的计算机断层成像光谱仪(CTIS)系统在天文多光谱成像和可见光(0.4 - 0.7 μm)及近红外(1.2 - 2.1 μm)波段成像光谱学应用中的场地评估结果。我们开发并分析了该高光谱成像方法的卷积模型,其中包括AO系统影响的卷积表示。我们采用期望最大化方法,结合从仪器、统计和大气效应的物理学中获得的额外先验约束,以提取高光谱图像中特征的细节。本研究的数据是使用先进电光系统(AEOS)获得的,这是空军毛伊岛空间监视系统的一部分。
Hege 等(星期三)研究了这个问题。