我们提出了一种新颖的聚焦离子束（FIB）方法（METIS-Fa：使用In夹心-FIB方法对电子透明材料进行多技术测量），用于从约70至100 nm薄的透射电子显微镜（TEM）FIB箔片制备几何对称的原子探针断层扫描（APT）针。METIS-Fa方法利用FIB仪器和铟来增强TEM箔片，以便后续生产APT针。这种方法首次使得几何对称APT样品准备成为可能，允许在相关的、特定位置的TEM和APT研究中为每种技术提供最佳条件，成功率达到66%（共九根针）。METIS-Fa在合成玄武岩硅酸盐、环氧树脂、陆地硅酸盐（圣卡洛斯橄榄石）和氧化物（铝土矿）、来自米勒山脉（MIL）090019和Acfer 094的陨石硅酸盐，以及来自阿兰山（ALH）77307陨石的前太阳星尘颗粒等材料上进行了测试。这些外星颗粒展示了定位单个颗粒（>100 nm大小）的能力。本研究中提供的高质量TEM和APT数据证明了该方法的重复性和优点。METIS-Fa为有机和无机材料提供了原子级、微量元素和矿物学表征，广泛适用于材料科学、地球科学、行星科学和医学科学。
Nevill等（周二）研究了这个问题。