Key points are not available for this paper at this time.
对可编程金属化单元非易失性存储器的开（低电阻）状态到关（高电阻）状态的过渡进行了研究。开态在应力电压和擦除操作下的稳定性在100微秒到100秒的时间尺度内作为初始电阻的函数进行了表征。数据表明，开关过渡受到电压驱动的离子跃迁的限制，并且尺寸更大、因此电阻更低的细丝更加稳定。最后，结果在擦除的分析模型的帮助下进行了讨论，该模型也用于解决开态稳定性与编程/擦除电流之间的权衡.
Kamalanathan 等人（周三）研究了这个问题.
Synapse has enriched 5 closely related papers on similar clinical questions. Consider them for comparative context: