来自X射线粉末照片的精确晶格常数

给出了一种非常通用的方法，用于从粉末照片中计算晶格常数，考虑到在此类照片中不可避免的各种系统误差，包括半径误差、胶卷收缩、吸收、离心率和有限缝高。虽然数据的解决是通过最小二乘法，但绝不是很繁琐，比以前提出的各种解析和图形方法简单得多。给出了使用德拜和聚焦相机数据解决的立方体、六角和正交晶体结构的示例，且扩展到其他结构和相机的应用变得显而易见。事实上，粉末相机变成绝对仪器，不依赖于校准物质，仅依赖于X射线波长的值。