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通过热氢和氘原子的吸附,在银和铜表面产生的热电子和空穴已经通过在Si(111)上的超薄金属膜肖特基二极管探测器直接测量。当金属表面暴露于这些原子时,电荷载流子在表面被激发,朝接口快速运动,并在二极管中被检测为化学电流。随着暴露量的增加,电流降低,并最终在稳态覆盖时达到恒定值。这是转变金属表面吸附过程中非绝热能量耗散的首次直接证据。
Nienhaus等(Mon)研究了这个问题。
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