短波长记录现象的实验研究

数据表明，在某些无偏正弦波记录条件下，纵向磁化强度通过介质厚度呈指数下降。磁化强度可以用表达式 Mₗ = Mₗ₀e^KY 来准确描述，其中 y 是从介质表面向负方向测量的。基于该磁化强度分布计算了去磁场，并进行图形分析以获得介质中的静态磁操作点。通过了解有无自去磁化的磁化强度分布，可以计算出由于自去磁化造成的重现信号损失。在具有不同饱和磁化强度 M s 的介质上测量了记录信号级别的损失。长波长下的重现信号级别与 M s 近似成正比，但在短波长下信号级别趋于一致。如果我们把这种趋同称为 M s 依赖的损失，可以看出 M s 依赖的损失远大于理论自去磁化损失。由此结果可以得出，记录过程中的其他 M s 依赖的损失除了自去磁化之外也在发生。