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Eine dynamische Theorie der Niedrigenergie-Elektronenbeugung (LEED) wird angewendet, um die Geometrie der 2*1-rekonstruierten (111)-Oberfläche von Silizium aus experimentellen LEED-Intensitäts-gegen-Energie-Profilen zu bestimmen. Die oberste Schicht ist um 0,30 AA 'verzerrt', während die zweite Schicht eine leichte Paarung zwischen benachbarten Reihen zeigt. Die beiden obersten Interlayer-Abstände sind im Vergleich zu den Volumenwerten um 10 und 3,5% verringert.
Feder et al. (Wed,) untersuchten diese Frage.
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