본 연구에서는 고속 전자회로 보드의 전원 분배망에서 발생하는 광대역 전원 노이즈를 효과적으로 억제하기 위해, 소형화 된 이중 결함 접지 (dual defected ground structure, DDGS) 기반의 전자기 밴드갭 (EBG) 구조와 이를 효율적으로 최적화하기 위한 인공신경망 및 유전 알고리즘 기반의 역설계 방법론을 제안한다. 제안하는 DDGS-EBG 구조는 접지면에 이중 슬롯을 배치하는 구조로, 기존 EBG 구조 대비 32.5%의 면적 소형화를 달성하면서도 동등한 수준의 저주파 차단 특성을 확보하였다. 제안하는 DDGS-EBG 구조의 주요 설계 변수가 노이즈 저지 대역에 미치는 영향에 대해서도 분석했다. 또한, 제안하는 DDGS-EBG 구조의 복잡한 설계 변수 공간 내에서 목표로 하는 노이즈 저지 대역을 신속하고 정밀하게 도출하기 위해, 인공신경망과 유전 알고리즘이 결합된 역설계 프레임워크를 구축하였다. DDGS-EBG 기반 광대역 노이즈 감쇠 설계를 위해서 이종 단위 셀 결합 구조를 채택했으며 이 구조의 최적 설계에 역설계 기법을 적용했다. 제안하는 역설계 기법은 기존 전자장 시뮬레이션 기반 최적화 방법과 비교했을 때 99.7%의 연산 시간 단축을 보여줬으며 동시에 매우 높은 설계 정확도를 나타내었다.
Kim et al. (Fri,) studied this question.