Caracterización definitiva a nivel molecular de los defectos en cristales de UiO‐66

La identificación y caracterización de defectos, a nivel molecular, en los marcos organometálicos (MOFs) sigue siendo un desafío. Con el uso extensivo de la difracción de rayos X de un solo cristal (SXRD), los defectos de enlace faltante en el MOF basado en zirconio UiO-66, Zr6 O4 (OH)4 (C8 H4 O4 )6 , han sido identificados como moléculas de agua coordinadas directamente a los centros de zirconio. El equilibrio de carga se logra mediante aniones hidroxilo, que están unidos por enlaces de hidrógeno dentro de los poros del marco. Además, la naturaleza precisa de los defectos y su concentración pueden ser manipuladas alterando los materiales de partida, las condiciones de síntesis y las modificaciones post-sintéticas.