Microtomografía de rayos X tridimensional

La nueva técnica de microtomografía de rayos X genera de manera no destructiva mapas tridimensionales del coeficiente de atenuación de rayos X dentro de pequeñas muestras con aproximadamente un 1 por ciento de precisión y con una resolución cercana a 1 micrómetro. Se pueden producir mapas elementales espacialmente resueltos con fuentes de rayos X de sincrotrón al escanear muestras a energías justo por encima y por debajo de los bordes de absorción atómica característicos. El sistema consiste en un detector de rayos X de imagen de alta resolución y algoritmos de alta velocidad para la reconstrucción de imágenes tomográficas. Se describe el diseño y funcionamiento del dispositivo de microtomografía, y se presentan imágenes tomográficas que ilustran su rendimiento tanto con fuentes de rayos X de sincrotrón como de laboratorio.