涨落显微技术：中程有序的探针

涨落显微技术是一种衍射-成像杂化技术，通过检查相干散射中的空间涨落来检测非晶材料中的中程有序。这些涨落在图像和衍射谱图中表现为散斑。对散斑产生贡献的材料体积由成像光学系统的点扩散函数（分辨率）和样品厚度决定。所探测的空间周期性与衍射矢量相关。对散斑进行统计分析可以区分随机和非随机（有序）的贡献。由图像强度的归一化方差所确定的提供最大散斑对比度的图像分辨率，取决于有序结构的特征长度尺度。由于中程有序的长度尺度可延伸至大约第十配位层，因此涨落显微技术往往是一种低图像分辨率技术。