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SoC制造单元的外包带来了使用硬件木马进行设计篡改的潜在威胁。目前存在基于旁路分析的方法来区分此类被恶意篡改的IC与正品IC,但晶圆代工厂中的工艺偏差限制了此类方法的有效性。在本研究中,我们提出了一种基于电路分区的方法来检测和定位嵌入的木马。结果表明,我们的方法在分离电路中的候选木马方面是有效的。此外,我们提供了一种基于功耗特征的方法,用于细化可能包含木马的候选区域。在许多情况下,这种隔离方法能够使因木马存在而导致的电路异常行为显现出来,从而提高其被检测到的概率。
Banga et al. (Sun,) 研究了这一问题。
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