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在各种制造方法下评估量子限制(QC)在硅和锗纳米结构(NSs)中的作用,包括量子点、量子线和量子阱,从其结构和光学属性两个方面进行评估。结构属性包括界面态、基体材料中的缺陷态和应力,这些都会改变电子状态,从而影响测量的光学属性。我们展示了制造方法的变化如何导致纳米结构属性的差异,并强调了每种制造方法最相关的参数。被嵌入或夹在二氧化硅中的硅,及其亚氧化物界面态的作用占据了讨论的主要部分。其他基体材料包括氮化硅和氧化铝。硅纳米结构显示出复杂的光谱,因为界面态与限制载流子之间的耦合表现出不同的强度,具体取决于限制的维度。由于氧空位缺陷态的强烈影响,锗纳米结构无法产生明显的发光。硅和锗纳米结构属性的变化考虑了不同的量子限制理论模型(有效质量近似、紧束缚法和伪势方法)。对于每个理论模型,我们讨论了相关实验参数的处理。
Barbagiovanni等人(Mon,)研究了这个问题。
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