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多普勒展宽跃迁的线型在与共享共同能级的第二个多普勒展宽跃迁共振的激光场存在下发生剧烈改变:在频率对称于相应的线中心的位置上,出现了两个宽度不同的窄共振叠加在宽背景信号上。该效应已经在一些看似不同但密切相关的研究中得到应用,包括高分辨率的超精细结构和同位素位移测定。本文对该效应的理论进行了发展,并参考了这些应用。该处理是通过两个经典场引起的跃迁速率来表述的,这两个经典场与一对任意频率的耦合多普勒展宽跃迁共振交互。所采用的扰动方法适用于一个场完全饱和其跃迁的情况;结果线型表达式展现出重要的功率展宽效应。该方法等同于常见的密度矩阵表述,后者也进行了展示。针对两种精密光谱应用,模交叉和自发辐射线宽效应,详细讨论了结果表达式的各种特征。还讨论了与先前工作的联系。
Feld 等人 (Fri,) 研究了这个问题。
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