面孔的工作记忆负荷调节P300、N170和N250r

我们使用事件相关电位（ERP）方法研究与面孔的视觉工作记忆（WM）相关的神经活动。此研究有两个主要目标。首先，扩展P300负载调节的先前发现至面孔的工作记忆。其次，研究N170和N250r是否也受到工作记忆负荷的影响。在记忆编码期间，同时呈现一到四个未知面孔。在1秒的延迟后，出现一个目标面孔，参与者需判断该面孔是否来自先前的面孔数组。随着工作记忆负荷的增加，P300振幅下降，且这种P300抑制在编码和检索阶段均有观察到。工作记忆负荷还调节了其他ERP。目标面孔引发的N170振幅随着负荷增加而减少，并且在负荷2时N170的减少达到了平稳状态，反映出约两幅面孔的行为工作记忆容量。此外，N250r作为目标面孔与未出现的目标面孔在编码数组中的ERP差异，也在较高的工作记忆负荷下降低。这些发现通过表明P300在面孔上的负荷调节也存在而扩展了以往的研究。此外，我们首次展示了工作记忆负荷影响N250r和早期视觉N170成分。这表明更高的视觉区域在面孔的工作记忆中起着重要作用.