The intensity distribution in the focus of curved-crystal monochromators and an estimate of its influence on precision measurements of lattice parameters

LATTICE PARAMETERS 0,4 XE.Die Schw/%nze der spektralen Verteilung sind v611ig weggeschnitten.Durch Anschleifen der Kristalloberfl/%che kann das Profil der Linie so korrigiert werden, dass die Ansblendtmg eine Gauss-Verteilung erh/~lt.Man braucht dann bei der Auswertung nur noch die Lage der Spitzen der Pri%paratreflexe und nicht mehr ihre Profile auszulnessen.2. Werden Messungen an stehenden Pr/%paraten (nach Frohnmeyer & Glocker, 1953) mit Korngr6ssen zwischen 10/z und 401e gemacht, so wird die spektrale Verteilung von Cu Kal m6glichst hoch monochromatisiert.Fig. 6 zeigt wieder die Registrierung der spektralen Verteilung yon Cu Ka I und hineinregistriert eine hochmonochromatlsche Ausblendung im Maximum von Cu Ka 1. Die Halbwertbreite der Ausblendung ist etwa 0,03 XE.Mit dieser hohen Monochromasie k6nnen noch Unterschiede der Gitterkonstanten yon Korn zu Korn bis zu 1/100 XE gemessen werden.Diese Art der Monochromatisierung und ihre Anwen.dungsmSglichkeiten sind im Prinzip sehr einfach.Eine brauchbare technische L6sung ist dageg_en schwierig.Obwohl die prozentuale Reflexion der 2354 Quarznetzebene fast 60% betr/igt, ist die Integralintensit~it der reflektierten hochmonochromatischen Strahlung wesentlich geringer als die Integralintensit/it einer emittierten R6ntgen-Linie.Die Belichtungszeiten sind mit einem ebenen Rfickstrahl-Monochromator um den Faktor 20 bis 50 h6her als ohne Monochromator.