Influence of Pancreatectomy Procedure and Pancreatic Transection Line Location on Postoperative Glucose Tolerance

目的：膵切除術式の耐糖能への影響を明らかにし，糖尿病発症・悪化の予測因子を同定する．方法：2007年～2022年に当院で膵頭十二指腸切除術（pancreaticoduodenectomy；以下，PDと略記）と膵体尾部切除術（distal pancreatectomy；以下，DPと略記）を施行した342例を対象とした．糖尿病既往の有無で，PDを既往あり（PD-DM群：81例）と既往なし（PD-N群：166例）に，DPを既往あり（DP-DM群：33例）と既往なし（DP-N群：62例）に層別化し，比較検討した．結果：術前HbA1c値6.0%以上とDPが新規糖尿病発症予測因子であった．DP-N群はPD-N群より，糖尿病発症率が高く（40% vs. 15%），発症期間も短縮していた（5か月vs. 28か月）．膵切離線が門脈左縁より右側のDPは左側のDPより，糖尿病発症率が高く（56% vs. 21%），発症期間も短縮していた（4か月vs. 16か月）．DP-DM群はPD-DM群より，術後HbA1c値が高く（7.6% vs. 6.6%），インスリン療法を必要とする割合が高かった（58% vs. 34%）．結語：膵切離線が門脈左縁より右側のDPは糖尿病発症リスクが高く，糖尿病既往例に対するDPでは，血糖コントロール困難となる可能性が高いため，厳重な血糖管理が重要である．